荒井 重勇 (名古屋大学 特任准教授)
【専門】 透過型電子顕微鏡(TEM)
約50年間電子顕微鏡の業務に専従してきた、日本の透過型電子顕微鏡測定の第一人者です。超高圧電子顕微鏡においては開発から担当し、電子顕微鏡の構造・原理・測定すべてに精通しています。そのため、トラブル対応も得意としています。また、特殊サンプルなどの分析においては、前処理から測定条件検討に至るまで、最適解を提供します。外部企業からの技術セミナー講師を担当しており、学生や若手技術者への指導も得意としています。教員ではなく元技術職員として、現場が必要とする高度で経験豊かな技術を丁寧に伝授・指導します。
技術詳細
装置名 | メーカー | 型番 | 使用歴(年) | 観察 | メンテナンス | 解析・解釈 | その他 |
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TEM | JEOL | JEM-1000K RS | 30 | ◎ | ◎ | ○ | |
TEM | JEOL | JEM-ARM200F Cold | 5 | ◎ | ◎ | ○ | |
TEM | JEOL | JEM-2100F/HK | 5 | ◎ | ◎ | ○ |
装置名 | メーカー | 型番 | 使用歴 | 試料作成・前処理 | メンテナンス | その他 |
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FIB-SEM | 日立ハイテクノロジーズ | MI4000L | 20 | ◎ | ◎ | ○ |
FIB-SEM | 日立ハイテクノロジーズ | ETHOS NX5000 | 20 | ◎ | ◎ | ○ |
イオンミリング | ムサシノ電子 | Model1040 | 5 | ◎ | ◎ | ○ |
アルゴンイオン研磨 | JEOL | PIPSⅡ | 5 | ◎ | ◎ | ○ |
クロスセクションポリッシャー | JEOL | IB-09020CP | 10 | ◎ | ◎ | ○ |
金属 | ◎ | 合金 | ○ | 複合材料 | ◎ | 多層膜 | ○ | 触媒 | ◎ | その他 | ||
半導体 | ○ | Si基板 | ○ | 酸化物単結晶基板 | ○ | 半導体単結晶基板 | ○ | 窒化物 | ○ | グラフェン | ○ | その他 |
生物試料 | × | 動物細胞 | × | 食品 | × | 植物 | × | ;菌・バクテリア等 | × | 毛髪・皮膚等 | × | その他 |
ソフト・ナノマテリアル | ◎ | 高分子 | × | ナノ粒子 | ◎ | カーボン材料(CNT) | × | 無機材料・セラミックス | ◎ | その他 | ◎ | その他 |
分析 | 解析・解釈 | |
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EDS | ◎ | ◎ |
EELS | ○ | ○ |
EBSD | × | × |
CBED | ◎ | ◎ |
使用実績 | |
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3D構築 | ◎ |
DigitalMicrograph | ○ |
ImagiJ | × |
GMS | ◎ |
EDA | ○ |
VESTA | × |
ReciPro | ◎ |
QSTEM | ○ |
Dr. Probe | × |
Radius | ◎ |
SEGMAT | ○ |
PPA | × |
Velox | × |
使用実績 | |
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フィラメント交換 | ◎ |
クリーニング | ○ |
定期メンテナンス | × |
新規導入・廃棄 | ◎ |
使用実績 | |
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分析に関するオペレーション支援 | ◎ |
解析に関する支援 | ○ |
装置開発 | × |
学生実験代行・補助 | ◎ |
授業代行 | ◎ |
その他 | ◎ |