荒井 重勇 (名古屋大学 特任准教授)
【専門】 透過型電子顕微鏡(TEM)
約50年間電子顕微鏡の業務に専従してきた、日本の透過型電子顕微鏡測定の第一人者です。超高圧電子顕微鏡においては開発から担当し、電子顕微鏡の構造・原理・測定すべてに精通しています。そのため、トラブル対応も得意としています。また、特殊サンプルなどの分析においては、前処理から測定条件検討に至るまで、最適解を提供します。外部企業からの技術セミナー講師を担当しており、学生や若手技術者への指導も得意としています。教員ではなく元技術職員として、現場が必要とする高度で経験豊かな技術を丁寧に伝授・指導します。
提供サービス
| ☑ | 実験・研究支援(技術相談) |
| ☑ | 実験データ解析 |
| ☑ | 機器分析支援 |
| ☑ | 授業代行 |
| ☑ | 研究・技術に関する講演 |
技術詳細
| 装置名 | メーカー | 型番 | 使用歴(年) | 観察 | メンテナンス | 解析・解釈 | その他 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| TEM | JEOL | JEM-1000K RS | 30 | ◎ | ◎ | ○ | |
| TEM | JEOL | JEM-ARM200F Cold | 5 | ◎ | ◎ | ○ | |
| TEM | JEOL | JEM-2100F/HK | 5 | ◎ | ◎ | ○ |
| 装置名 | メーカー | 型番 | 使用歴 | 試料作成・前処理 | メンテナンス | その他 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| FIB-SEM | 日立ハイテクノロジーズ | MI4000L | 20 | ◎ | ◎ | ○ |
| FIB-SEM | 日立ハイテクノロジーズ | ETHOS NX5000 | 20 | ◎ | ◎ | ○ |
| イオンミリング | ムサシノ電子 | Model1040 | 5 | ◎ | ◎ | ○ |
| アルゴンイオン研磨 | JEOL | PIPSⅡ | 5 | ◎ | ◎ | ○ |
| クロスセクションポリッシャー | JEOL | IB-09020CP | 10 | ◎ | ◎ | ○ |
| 金属 | ◎ | 合金 | ○ | 複合材料 | ◎ | 多層膜 | ○ | 触媒 | ◎ | その他 | ||
| 半導体 | ○ | Si基板 | ○ | 酸化物単結晶基板 | ○ | 半導体単結晶基板 | ○ | 窒化物 | ○ | グラフェン | ○ | その他 |
| 生物試料 | × | 動物細胞 | × | 食品 | × | 植物 | × | ;菌・バクテリア等 | × | 毛髪・皮膚等 | × | その他 |
| ソフト・ナノマテリアル | ◎ | 高分子 | × | ナノ粒子 | ◎ | カーボン材料(CNT) | × | 無機材料・セラミックス | ◎ | その他 | ◎ | その他 |
| 分析 | 解析・解釈 | |
|---|---|---|
| EDS | ◎ | ◎ |
| EELS | ○ | ○ |
| EBSD | × | × |
| CBED | ◎ | ◎ |
| 使用実績 | |
|---|---|
| 3D構築 | ◎ |
| DigitalMicrograph | ○ |
| ImagiJ | × |
| GMS | ◎ |
| EDA | ○ |
| VESTA | × |
| ReciPro | ◎ |
| QSTEM | ○ |
| Dr. Probe | × |
| Radius | ◎ |
| SEGMAT | ○ |
| PPA | × |
| Velox | × |
| 使用実績 | |
|---|---|
| フィラメント交換 | ◎ |
| クリーニング | ○ |
| 定期メンテナンス | × |
| 新規導入・廃棄 | ◎ |
