荒井 重勇 (名古屋大学 特任准教授)

【専門】 透過型電子顕微鏡(TEM)

約50年間電子顕微鏡の業務に専従してきた、日本の透過型電子顕微鏡測定の第一人者です。超高圧電子顕微鏡においては開発から担当し、電子顕微鏡の構造・原理・測定すべてに精通しています。そのため、トラブル対応も得意としています。また、特殊サンプルなどの分析においては、前処理から測定条件検討に至るまで、最適解を提供します。外部企業からの技術セミナー講師を担当しており、学生や若手技術者への指導も得意としています。教員ではなく元技術職員として、現場が必要とする高度で経験豊かな技術を丁寧に伝授・指導します。

提供サービス

☑実験・研究支援(技術相談)
☑実験データ解析
☑機器分析支援
☑授業代行
☑研究・技術に関する講演

技術詳細

装置名メーカー型番使用歴(年)観察メンテナンス解析・解釈その他
TEMJEOLJEM-1000K RS30◎◎○
TEMJEOLJEM-ARM200F Cold5◎◎○
TEMJEOLJEM-2100F/HK5◎◎○
装置名メーカー型番使用歴試料作成・前処理メンテナンスその他
FIB-SEM日立ハイテクノロジーズMI4000L20◎◎○
FIB-SEM日立ハイテクノロジーズETHOS NX500020◎◎○
イオンミリングムサシノ電子Model10405◎◎○
アルゴンイオン研磨JEOLPIPSⅡ5◎◎○
クロスセクションポリッシャーJEOLIB-09020CP10◎◎○
金属◎合金○複合材料◎多層膜○触媒◎その他
半導体○Si基板○酸化物単結晶基板○半導体単結晶基板○窒化物○グラフェン○その他
生物試料×
動物細胞×
食品×
植物×
;菌・バクテリア等×
毛髪・皮膚等×
その他
ソフト・ナノマテリアル◎高分子×
ナノ粒子◎カーボン材料(CNT)×
無機材料・セラミックス◎その他◎その他
分析解析・解釈
EDS◎◎
EELS○○
EBSD×
×
CBED◎◎
使用実績
3D構築◎
DigitalMicrograph○
ImagiJ×
GMS◎
EDA○
VESTA×
ReciPro◎
QSTEM○
Dr. Probe×
Radius◎
SEGMAT○
PPA×
Velox×
使用実績
フィラメント交換◎
クリーニング○
定期メンテナンス×
新規導入・廃棄◎

業績一覧

受賞、表彰受賞年
顕微鏡学会 技術功労賞2010
文部科学大臣表彰 「技術開発賞」受賞2014
文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム優秀技術賞2017
Nature Materials2020
ACS Appl. Mater. Interfaces2020
ACS Catalysis2019
Angew. Chem. Int. Ed2017
ACS NANO2016
その他多数 
島津テクノリサーチ中部事業所 開所記念式典 基調講演2022
日本金属学会 技術セミナー2022